Lab Circuits hat die optische Testabteilung durch die Hinzufügung eines dritten automatischen optischen AOI-Testsystems, in diesem Fall des Galaxy 25µ von CIMS, optimiert.

Das neue Galaxy 25µ bietet hervorragende AOI-Testfunktionen in:

- Bei Leiterplatten mit Sondermaterialien steigt der Bedarf ständig.
- In Designs mit sehr hoher Dichte können Spuren/Lücken von nur 25 µm getestet werden.
- Minimierung der Anzahl falscher Fehler in den Microways.
- Beschleunigen Sie in den äußeren Schichten ihre Analyse und verbessern Sie falsche Fehler.
- Bei der Erkennung von Mikrodefekten unter Einbeziehung neuer Spezialalgorithmen.

Zweifellos erhöht die Hinzufügung dieser neuen Ausrüstung die Testkapazität von Lab Circuits erheblich und bereitet uns auf die neuen Herausforderungen vor, die der Markt von uns verlangt.
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